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缺陷检测设备V2000

产品信息

设备参数:

项目 参数
核心参数 2D检测 2.5μm/像素【可配更高】
视场范围(FOV):12.8mmx12.8mm
3D检测 XY平面分辨率:3.6μm/像素
Z方向精度:±10μm
过杀率≤500 PPM
漏杀率≤50 PPM
MTBA≥2H
MTBF≥168H
GR&R<10%
UPH≥40-120 strips/h(以PDF3*3/5*6: 约70strips/h)
最小封装尺寸:兼容所有封装类型
最大引线框架尺寸:100mm × 300mm
检测类型 裸晶检测
焊点检测
焊线检测
胶体/焊锡检测
框架/引脚检测
可检缺陷类型数量 30+
应用 最小封装尺寸:兼容所有封装类型
最大引线框架尺寸:100mm × 300mm

*以上参数以实际产品为准

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