产品中心

Lead scan 外观瑕疵检测设备-P5000

产品信息

设备参数:

项目 参数
型号 P5000
可检测缺陷面 正反面
优势 2D检测:10μm/像素
3D检测:
XY平面分辨率:12μm/像素
Z方向精度:±10μm
视场范围(FOV):49mmx37mm
检测速度(14×35 Tray):50K
过杀率≤5000 PPM(0.5%)
漏杀率≤50 PPM
核心参数 MTBA>2H
MTBF>168H
GR&R<10%
产品尺寸范围:3mmX3mm~50mmx50mm
Tray盘尺寸:322.6×135.9×7.62 mm
检测系统 外观尺寸检测
外观缺陷检测
Mark检测
OCR检测
锡球面检测
设备附属系统 轨道数:5(1条上料轨道,3条出料轨道、1条缓存轨道)
真空拾取单元阙值监控(拾取异常自动处理)
料盘在轨道中位置监测(异常检测)
上下料方式:Tray to Tray(次品和良品自动分拣下料)
条码扫描器(批次追溯)
人机交互界面:24寸触摸屏显示器,图形化编程,操作便捷
静电消除离子风扇
2D Coding and Strip Map 二维码读取器(支持DataMatrix)芯片映射功能

*以上参数以实际产品为准

相关产品