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共迎“芯”机遇 | 杰锐思SEMICON SEA 2026圆满落幕

来源:苏州杰锐思智能科技股份有限公司 发布时间:2026/05/08

 SEMICON SEA 2026

2026年5月5日至7日,半导体年度盛会SEMICON SEA 2026在马来西亚吉隆坡圆满落幕。展会期间,杰锐思团队与海内外客户、合作伙伴及业内同仁深入交流,围绕半导体测试技术迭代与产业趋势,共探合作机遇,持续深化行业对接。

作为世界领先的半导体封装测试解决方案提供商,杰锐思在展会期间吸引了众多国内外头部半导体厂商驻足交流。客户对杰锐思系列展品的卓越性能及自主研发能力给予了高度肯定。

在半导体测试分选领域,杰锐思提供转塔式常温/常高温解决方案、平移式常高温/三温解决方案;在智能表面质检领域,提供DB/WB工艺检测解决方案及六面检解决方案。

转塔式测试分选

 TR2023

适用于QFN、DFN、SOIC、SOT、SOD等需要下压力控制封装系列的测试分选。


 TS2025-TH

适用于QFN、DFN、SOIC、SOT、SOP、SOD、PDPN等封装系列或有高温测试需求的测试分选。


 Th3020

适用于所有封装系列的测试分选,对标国际领先企业。


 TS2020

适用于SOP、SOT、SOD、QFN2x2及以上封装系列的测试分选。


平移式测试分选

 超高温测试分选

适用于QFP、TQFP、CSP、PLCC、QFN、BGA、LGA、PGA、TSOP等封装类型的常温、高温测试分选。


 三温测试分选

适用于QFN、QFP、BGA、LGA、PLCC、PGA、CSP、TSOP等封装系列的低温、常温、高温测试分选。


DB / WB AOI

 DB / WB缺陷检测-V1000、V2000

适用于半导体先进封装芯片固晶及金线/铝线键合工以后的2D、3D自动光学检测。


SIP检测

 ARP-100

适用于SIP、PCBA、部件的外观瑕疵检测。


六面外观检测

 Lead Scan

适用于QFN、QFP、BGA、LGA等类型的外观瑕疵检测。

东南亚是杰锐思海外战略布局的重要市场。目前,杰锐思已在越南、新加坡设立子公司,并在马来西亚、越南、泰国、柬埔寨建立服务站点;同时在韩国、美国、德国、爱尔兰、墨西哥等地设有销售办事处或服务站点,持续为全球客户提供卓越的智能制造解决方案。

为期三天的展会已圆满落幕,感谢全球伙伴莅临杰锐思展台交流指导,期待下次再会!未来,杰锐思将继续坚持创新驱动,为客户提供更优质的产品与服务,助力半导体行业发展。

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